4001-123-022 
ABOUT US
關(guān)于我們
MORE+微儀光電（天津）有限公司是一家集顯微鏡、顯微鏡自動(dòng)化、顯微專(zhuān)用攝像系統(tǒng)及圖像分析系統(tǒng)的研發(fā)、生產(chǎn)及銷(xiāo)售為一體的多元化高科技企業(yè)。公司擁有一支專(zhuān)業(yè)從事顯微儀器應(yīng)用技術(shù)研究，新產(chǎn)品新技術(shù)開(kāi)發(fā)的工程技術(shù)團(tuán)隊(duì)。 在傳統(tǒng)光學(xué)顯微成像技術(shù)上融入了攝像計(jì)算機(jī)分析系統(tǒng)及機(jī)械自動(dòng)化系統(tǒng)，不斷開(kāi)發(fā)出能滿(mǎn)足科研教學(xué)、機(jī)械制造、電子材料、紡織纖維、地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、航空航天、計(jì)量科學(xué)、軍事公安、農(nóng)林牧漁等幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域進(jìn)行研究分析的新產(chǎn)品和新技術(shù)。 致力于向客戶(hù)提供原位透射電鏡解決方案、臺(tái)式掃描電鏡,掃描電鏡,臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī),sem掃描電鏡,原位掃···
-
安全可靠
-
放心品質(zhì)
-
操作簡(jiǎn)單
-
省時(shí)節(jié)能
客戶(hù)案例
專(zhuān)業(yè)從事電子顯微鏡及電鏡附件的廠(chǎng)家，堅(jiān)持客戶(hù)至上，誠(chéng)信服務(wù)，攜手共贏(yíng)
新聞中心
NEWS
2025-04-18
SEM掃描電鏡獲取高質(zhì)量圖像的黃金條件：從樣品制備到參數(shù)設(shè)置的全程解析
掃描電鏡作為材料表征的“金標(biāo)準(zhǔn)”，其圖像質(zhì)量直接影響科研數(shù)據(jù)的可靠性。本文將從樣品制備、儀器參數(shù)、環(huán)境控制、數(shù)據(jù)處理四大維度，系統(tǒng)解析獲得高分辨率、高襯度SEM掃描電鏡圖像的關(guān)鍵條件，助力科研與工業(yè)檢測(cè)效率提升。...
MORE2025-04-17
SEM掃描電鏡在高分子材料領(lǐng)域中的應(yīng)用案例深度解析
高分子材料憑借其可設(shè)計(jì)性強(qiáng)、性能可調(diào)范圍廣的特性，已成為航空航天、新能源、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域的關(guān)鍵材料。而掃描電鏡作為材料表征的“金標(biāo)準(zhǔn)”工具，正通過(guò)其獨(dú)特的微觀(guān)視角，揭示高分子材料的結(jié)構(gòu)與性能奧秘。本文將結(jié)合典型應(yīng)用場(chǎng)景與實(shí)測(cè)案例，展現(xiàn)SEM掃描電鏡如何賦能高分子材料研發(fā)。...
MORE2025-04-16
SEM掃描電鏡的制樣標(biāo)準(zhǔn)有哪些？
掃描電鏡作為材料表面形貌分析的核心工具，其成像精度高度依賴(lài)規(guī)范的樣品制備。本文從樣品類(lèi)型、處理流程、環(huán)境要求三方面，系統(tǒng)梳理SEM掃描電鏡制樣的關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)，助您獲得高清晰度的科學(xué)圖像。...
MORE2025-04-15
SEM掃描電鏡：開(kāi)啟生物醫(yī)學(xué)研究的微觀(guān)新紀(jì)元
在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，對(duì)微觀(guān)世界的探索從未停歇。掃描電鏡憑借其納米級(jí)分辨率、三維立體成像和大景深優(yōu)勢(shì)，已成為解析生物樣品超微結(jié)構(gòu)的核心工具。本文將多維度解析SEM在生物醫(yī)學(xué)研究中的應(yīng)用場(chǎng)景、技術(shù)突破及未來(lái)方向，助力科研與產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新。 一、SEM掃描電鏡的核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)：超越視覺(jué)極限的微觀(guān)洞察力...
MORE2025-04-14
SEM掃描電鏡在水泥材料行業(yè)領(lǐng)域中的應(yīng)用介紹
水泥作為現(xiàn)代建筑的核心材料，其微觀(guān)結(jié)構(gòu)與性能直接影響工程質(zhì)量和壽命。掃描電鏡憑借其納米級(jí)分辨率和三維形貌成像能力，已成為水泥材料研究、生產(chǎn)與質(zhì)控環(huán)節(jié)的“顯微鏡之眼”。本文將系統(tǒng)解析SEM掃描電鏡在水泥行業(yè)中的創(chuàng)新應(yīng)用、技術(shù)優(yōu)勢(shì)及未來(lái)價(jià)值。...
MORE2025-04-10
SEM掃描電鏡的幾個(gè)成像技巧分享
掃描電鏡作為材料科學(xué)、生物學(xué)和半導(dǎo)體工業(yè)中的“視覺(jué)利器”，能夠揭示從納米結(jié)構(gòu)到宏觀(guān)形貌的豐富細(xì)節(jié)。然而，想充分發(fā)揮SEM掃描電鏡的潛力，需掌握一系列成像技巧。本文將聚焦電子束參數(shù)、樣品制備、信號(hào)探測(cè)等關(guān)鍵環(huán)節(jié)，助您拍攝出高對(duì)比度、低噪聲的掃描電鏡圖像。...
MORE2025-04-09
SEM掃描電鏡：解鎖生物醫(yī)學(xué)研究的微觀(guān)密碼
在探索生命奧秘的征途中，掃描電鏡憑借其獨(dú)特的三維成像能力和納米級(jí)分辨率，正成為生物醫(yī)學(xué)研究不可或缺的多維分析工具。從組織工程到疾病機(jī)制研究，從藥物遞送系統(tǒng)到再生醫(yī)學(xué)，SEM掃描電鏡技術(shù)正在突破傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的局限，為科研工作者打開(kāi)微觀(guān)世界的新視窗。本文將系統(tǒng)解析掃描電鏡在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的六大核心應(yīng)用場(chǎng)景，揭示其如何重塑現(xiàn)代醫(yī)學(xué)研究范式。...
MORE2025-04-08
SEM掃描電鏡能在哪些環(huán)境中工作：原理、優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn)深度解析
掃描電鏡作為納米科學(xué)與材料研究領(lǐng)域的核心工具，憑借其高分辨率、大景深及多功能性，在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、電子工程等領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛應(yīng)用潛力。其環(huán)境適應(yīng)性是決定成像質(zhì)量與測(cè)量精度的關(guān)鍵因素。本文將深入探討SEM掃描電鏡在不同工作環(huán)境中的表現(xiàn)，揭示其原理、優(yōu)勢(shì)及面臨的挑戰(zhàn)。...
MORE2025-04-07
SEM掃描電鏡樣品制備全攻略：10大關(guān)鍵注意事項(xiàng)助力**成像
在科學(xué)研究和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域，掃描電鏡是觀(guān)察微觀(guān)形貌的“金標(biāo)準(zhǔn)工具”。然而，從樣品制備到高質(zhì)量成像的轉(zhuǎn)化，往往受制于容易被忽視的細(xì)節(jié)。本文基于200+實(shí)驗(yàn)室案例經(jīng)驗(yàn)，系統(tǒng)梳理SEM掃描電鏡樣品制備全流程中的核心注意事項(xiàng)，助您避開(kāi)常見(jiàn)誤區(qū)，提升成像效率與數(shù)據(jù)可靠性。...
MORE2025-04-03
SEM掃描電鏡能觀(guān)察哪些樣品？全面解析其應(yīng)用領(lǐng)域與優(yōu)勢(shì)
一、引言：掃描電鏡的核心價(jià)值 SEM掃描電鏡作為材料科學(xué)、生物學(xué)、電子工程等領(lǐng)域的“微觀(guān)之眼”，憑借其高分辨率、大景深和三維成像能力，成為研究微觀(guān)形貌與結(jié)構(gòu)的S選工具。本文將從樣品適應(yīng)性、觀(guān)察深度與跨學(xué)科應(yīng)用三大維度，解析掃描電鏡可觀(guān)測(cè)的樣品類(lèi)型及其技術(shù)優(yōu)勢(shì)。...
MORE2025-04-02
SEM掃描電鏡：半導(dǎo)體全鏈條質(zhì)量管控的“納米之眼”
在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)向3nm、2nm制程沖刺的今天，每一道工藝環(huán)節(jié)都需達(dá)到原子級(jí)精度。作為材料分析領(lǐng)域的“老兵”，掃描電鏡憑借其納米級(jí)分辨率、大景深三維成像及快速樣品制備優(yōu)勢(shì)，已深度滲透到半導(dǎo)體研發(fā)、制造、封裝與失效分析的每個(gè)環(huán)節(jié)。本文將結(jié)合產(chǎn)業(yè)實(shí)際需求，解析SEM掃描電鏡在半導(dǎo)體全鏈條中的核心應(yīng)用場(chǎng)景。...
MORE2025-04-01
SEM掃描電鏡中的荷電效應(yīng)及消除辦法全解析
掃描電鏡作為材料表征的“金標(biāo)準(zhǔn)”，在納米科技、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。然而，面對(duì)絕緣體或?qū)щ娦圆畹臉悠窌r(shí)，荷電效應(yīng)常成為制約圖像質(zhì)量的“攔路虎”。本文將深度解析荷電效應(yīng)的原理、影響，并提供系統(tǒng)化的消除策略。一、荷電效應(yīng)：成因與本質(zhì) 1. 成因解析 電子束與樣品的“失衡”：當(dāng)高能電子束轟擊樣品表面時(shí)，若樣品導(dǎo)電性不良（如高分子材料、陶瓷），入射電子無(wú)法及時(shí)導(dǎo)走，導(dǎo)致表面電荷積累。...
MORE2025-03-31
樣品導(dǎo)電性對(duì)SEM掃描電鏡成像的影響指南
掃描電鏡作為材料表征的“納米之眼”，其成像質(zhì)量卻常被一個(gè)易被忽視的因素左右——樣品的導(dǎo)電性。電荷積累引發(fā)的圖像漂移、熱損傷導(dǎo)致的形貌失真、甚至信號(hào)噪聲比下降，70%的SEM掃描電鏡成像問(wèn)題均與樣品導(dǎo)電性處理不當(dāng)有關(guān)。本文將從物理機(jī)制、實(shí)戰(zhàn)挑戰(zhàn)、解決方案三個(gè)維度，深度解析導(dǎo)電性對(duì)掃描電鏡成像的影響及優(yōu)化策略。...
MORE2025-03-28
SEM掃描電鏡拍攝難題全攻略：從圖像模糊到樣品損傷的實(shí)戰(zhàn)解決方案
作為材料表征的"電子眼"，掃描電鏡在納米科技、生物醫(yī)療、刑偵鑒定等領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。然而，在實(shí)際操作中，70%的操作者曾遭遇圖像質(zhì)量不佳、樣品損傷等棘手問(wèn)題。...
MORE2025-03-27
SEM掃描電鏡有那些工作模式
掃描電鏡是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面，通過(guò)檢測(cè)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)成像的分析工具。其工作模式多樣，以下為您詳細(xì)介紹：一、基本工作原理 SEM掃描電鏡通過(guò)電子槍發(fā)射高能電子束（加速電壓通常為1-30 keV），經(jīng)電磁透鏡聚焦成納米級(jí)探針，在掃描線(xiàn)圈作用下逐點(diǎn)掃描樣品表面。...
MORE2025-03-26
SEM掃描電鏡拍攝條件是什么樣的
掃描電鏡通過(guò)聚焦電子束掃描樣品表面，收集二次電子、背散射電子等信號(hào)成像，其拍攝條件直接影響成像質(zhì)量和分辨率。以下是關(guān)鍵條件的詳細(xì)解析及優(yōu)化策略：一、核心拍攝條件 1. 加速電壓 范圍：1 kV（低電壓）~30 kV（高電壓）。選擇依據(jù)：...
MORE2025-03-25
SEM掃描電鏡的材料分析法更適用那些行業(yè)使用
掃描電鏡通過(guò)聚焦電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)（如二次電子、背散射電子），結(jié)合能譜分析（EDS），實(shí)現(xiàn)對(duì)材料微觀(guān)形貌、成分及結(jié)構(gòu)的**表征。其高分辨率（納米級(jí)）、大景深、多功能性等技術(shù)優(yōu)勢(shì)，使其在以下行業(yè)中成為不可替代的分析工具：一、材料科學(xué)領(lǐng)域 核心應(yīng)用：微觀(guān)結(jié)構(gòu)解析與性能優(yōu)化 金屬材料：觀(guān)察晶粒尺寸、位錯(cuò)分布、相變機(jī)制，分析斷裂模式及表面磨損。例如，研究馬氏體不銹鋼回火過(guò)程中α相演變，優(yōu)化熱處理工藝。陶瓷材料：分析顯微結(jié)構(gòu)、氣孔分布、晶界特性。案例顯示，MgO摻雜可抑制SrTiO?陶瓷晶粒生長(zhǎng)，提升介電性能。...
MORE2025-03-24
SEM掃描電鏡的幾個(gè)常見(jiàn)誤區(qū)介紹
1.掃描電鏡圖像是真實(shí)顏色的? SEM掃描電鏡產(chǎn)生的圖像是黑白的，因?yàn)樗鼈兪峭ㄟ^(guò)電子與樣品相互作用的結(jié)果，而非光波。人們通?？吹降牟噬珤呙桦婄R圖像是后期通過(guò)數(shù)字著色技術(shù)加工的，用以區(qū)分不同結(jié)構(gòu)或增強(qiáng)視覺(jué)效果。...
MORE2025-03-21
教你拍出高質(zhì)量的SEM掃描電鏡圖：掃描電鏡參數(shù)的調(diào)整方法
拍出高質(zhì)量的SEM掃描電鏡圖片除了主觀(guān)因素及操作熟練度和樣品制備方面的問(wèn)題外，更主要的還需要對(duì)掃描電鏡的各種參數(shù)進(jìn)行調(diào)試，已達(dá)到想要的效果，今天就跟大家介紹下如何對(duì)掃描電鏡的各種部件參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。01：加速電壓 1.**分辨率**: -般來(lái)說(shuō)，加速電壓越高，電子束的穿透能力越強(qiáng)，能夠激發(fā)更深層次的信號(hào)，但同時(shí)也可能導(dǎo)致電子束在樣品內(nèi)部散射加劇，降低圖像的橫向分辨率。...
MORE2025-03-20
SEM掃描電鏡各工作模式選擇原則是什么
SEM（Scanning Electron Microscope）即掃描電子顯微鏡，其各工作模式的選擇原則主要取決于所需的分析類(lèi)型、樣品的特性以及實(shí)驗(yàn)的具體要求。以下是對(duì)SEM掃描電鏡各工作模式選擇原則的詳細(xì)闡述：一、基本工作模式 掃描電鏡的基本工作模式主要基于其成像原理，即利用聚焦的高能電子束在固體樣品表面產(chǎn)生各種信號(hào)，這些信號(hào)揭示了樣品的信息，包括外部形態(tài)（紋理）、化學(xué)成分，以及構(gòu)成樣品的材料的晶體結(jié)構(gòu)和取向。...
MORE
津公網(wǎng)安備12011002023086號(hào)
首頁(yè)
產(chǎn)品
案例
聯(lián)系